电子元器件可靠性测试:3118云顶集团AES系列CHILLER应用
5冠亚研发的AES系列CHILLER气体制冷设备,是专为电子元器件可靠性测试设计的专用温控设备,采用射流式快速温变技术,可实现-80℃至225℃的宽温域控温,升降温速率快,控温jing度高,适配电子元器件可靠性测试的各类...
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冠亚研发的AES系列CHILLER气体制冷设备,是专为电子元器件可靠性测试设计的专用温控设备,采用射流式快速温变技术,可实现-80℃至225℃的宽温域控温,升降温速率快,控温jing度高,适配电子元器件可靠性测试的各类...
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